亚博下载:集混合机设计开发、生产制造、技术服务于一体的实力厂家,主营亚博下载。

产品销售热线
18885459434

产品销售热线:

18885459434
当前位置:主页 > 服务新闻 >

固体表面zeta电位分析仪使用步骤

  固体表面zeta电位分析仪使用步骤。大塚电子---多方法混合系统指的是将激光衍射法与其它方法混合而设计的粒度仪,激光衍射法部分只采用分布于几十度角度范围的检测器,再辅以其它方法如PCS等,一般几微米以上用激光衍射法测量,而几微米以下的颗粒用其它方法测量,固体表面zeta电位分析仪,理论上讲粒径下限取决于辅助方法的下限,这种方法的优点是成本低,总的测量范围较宽,但因为不同的方法所要求的测量条件如样品浓度等都不一样,通常难以兼顾,另外由于不同方法间存在的系统误差,在两种方法的数据拟合区域往往较难得到理想的结果,除非测量前已经知道样品粒径只落在衍射法范围内或辅助方法的范围内。固体表面zeta电位分析仪,另外多方法混合系统需采用两个不同的样品池,这对于湿法测量来讲不是问题,因为样品可以循环,但对干法而言样品只能一次性通过样品池而不能循环,不能用两种方法同时测量,因而多种方法混合系统在干法测量时的粒径下限只能到几百纳米。

  构成有机电致发光器件的材料包括电极材料(征集材料和负极材料)、发光材料、载流子传输材料(电子传输材料和空穴传输材料)。固体表面zeta电位分析仪,有机发光材料为有机电致发光器件的核心材料,理想的有机电致发光材料在性能上具有量子效率高、载流子传输能力强、易于成膜、对光和热稳定性好、具备适宜的分子能级。其中量子效率作为有机发光材料的关键指标之一,量子效率测定在有机发光材料的研发阶段显得尤为重要。固体表面zeta电位分析仪,大塚电子的QE-2000和QE-2100量子效率测量系统可以在短时间内完成粉末、液体、薄膜材料的外量子效率、内量子效率、吸收率、透过率、反射率、发光光谱、激发光谱、色演算等指标的测量及解析。固体表面zeta电位分析仪,有机小分子薄膜可通过真空热蒸镀形成,真空蒸镀过程需要对膜厚进行监测。大塚电子的MCPD膜厚测量系统可以对真空腔体内的样品膜厚进行监测。

  激光粒度分析仪主要分类:1.激光颗粒度分析仪所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器。固体表面zeta电位分析仪,根据能谱稳定与否分为静态光散射粒度仪和动态光散射激光粒度仪2.静态光散射激光粒度仪能谱是稳定的空间分布。固体表面zeta电位分析仪,主要适用于微米级颗粒的的测试,经过改进也可将测量下限扩展到几十纳米。3.动态光散射原理的激光粒度仪根据颗粒布朗运动的快慢,通过检测某一个或二个散射角的动态光散射信号分析纳米颗粒大小,能谱是随时间高速变化。固体表面zeta电位分析仪,动态光散射原理的粒度仪仅适用于纳米级颗粒的测试。4.光透沉降仪不是激光粒度仪通常所说激光粒度分析仪是指衍射和散射原理的粒度仪,光透沉降仪,依据的原理是斯托克斯沉降定律而不是激光衍射/散射原理,因此这类仪器不能称作激光粒度仪。

  激光粒度仪是一款功能非常强大的分析仪器,既可测量须在液体中分散的样品,也可测量不能在液体中分散须在气体中分散的粉体材料。激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。固体表面zeta电位分析仪,由于激光具有很好的单色性和极强的方向性,所以在没有阻碍的无限空间中激光将会照射到无穷远的地方,并且在传播过程中很少有发散的现象。固体表面zeta电位分析仪,激光粒度仪的量程是指系统所能达到的Z大上限和Z小下限,分全程量程和分档量程两种形式。

  1、本页面内容为商业分类信息,为用户自行上传,请读者自选分辨信息线、本网不对该页面内容(包括但不限于文字、图片、视频)真实性负责,也不对该页面的知识产权负责。如对该页面内容有异议,请拨打电话,我们将马上处理,且不收取任何处理费用。

亚博下载